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《金属X射线衍射与电子显微分析技术》李树棠.1980

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[LV.2]偶尔看看I

 楼主| 发表于 2012-11-19 23:40:36 | 显示全部楼层 |阅读模式
北京中仪天信科技有限公司
金属X射线衍射与电子显微分析技术
【作 者】李树棠著
【出版发行】 北京市:冶金工业出版社 , 1980
【页 数】 376 ; 19cm
【原书定价】2.45
【主题词】金属分析:X射线衍射分析 X射线衍射分析:金属分析 电子显微镜分析
部分阅读
【中图法分类号】TG115.23 (工业技术>金属学与金属工艺>金属学与热处理>金属学(物理冶金)>金属的分析试验(金属材料试验)>物理试验法>射线衍射分析)
【参考文献格式】李树棠著. 金属X射线衍射与电子显微分析技术. 北京市:冶金工业出版社, 1980.

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