书籍：材料分析测试技术-材料X射线衍射与电子显微分析

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书名：材料分析测试技术-材料X射线衍射与电子显微分析
作者：周玉　编著  
出版社：哈尔滨工业大学出版社            
出版日期：1998-8-1
ISBN：7560313388            
市场价：￥19.80元
内容简介：本书介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时，简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法，并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
本书可作为材料科学与工程学科的本科生教材或教学参考书，也可供从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员参考。
简要目录：
第一章　X射线的性质
第二章　X射线衍射方向
第三章　X射线衍射强度
第四章　多晶体分析方法
第五章　X射线物相分析
第六章　宏观应力测定
第七章　电子光学基础
第八章　透射电子显微镜
第九章　复型技术
第十章　电子衍射
第十一章　晶体薄膜衍衬成像分析
第十二章　扫描电子显微镜
第十三章　电子探针显微分析
第十四章　其它显微分析方法简介

[ 本帖最后由 xiaozhu0607 于 2007-10-28 15:44 编辑 ]

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