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[求助] 直接腐蚀法测量奥氏体晶粒度机理?

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该用户从未签到

发表于 2009-8-3 13:41:16 | 显示全部楼层 |阅读模式
北京中仪天信科技有限公司
测量奥氏体晶粒度一般有以下方法:
1.氧化法
2.渗碳法
3.网状铁树体法
4.网状渗碳体法
5.直接淬火硬度法
6.网状屈氏体法
7.直接显示法

氧化法是在高温加热.使奥氏体晶界氧化,在常温下得以保留.用腐蚀剂腐蚀氧化物以显示奥氏体晶粒度.

...............
1~6的机理都是应用金属学原理,通过各种手段使得奥试题晶界发生变化,常温下保留,腐蚀后可以观察.但但但
直接显示法一般用苦味酸,常温下,奥氏体晶界已经不存在,为什么还能显示,机理是什么?
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