《材料科学中的扫描隧道显微分析》方鸿生.1993

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书名：材料科学中的扫描隧道显微分析
作者: 方鸿生 郑燕康 王家军 杨志刚
出版社:科学出版社
出版时间:         1993-11
扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope，简称STM）是本世纪80年代初研制成功的一种新型表面测试分析仪器，发展极快，是当前学术界的一个热点，已在物理、化学、材料科学、生命科学等领域引起震动．预期STM将引起材料结构分析技术的新飞跃，它的日益广泛应用将使相关领域获得许多新发现。
本书从材料科学实际应用出发，简要介绍了STM的工作原理，论述了扫描隧道显微镜在该领域的应用及最新成就，阐述了用STM观察材料组织结构的相关实验技术、原理与方法，包括样品制备方法、组织显示方法、表面防护、STM工作参数选择、针尖制备等，论述了作者用STM研究黑色及有色合金精细组织方面的研究成果，并向读者提供了大量原子结构图象．本书图文并茂，图象解释简捷明了。
本书可供从事金属材料、非金属材料及其它新型材料等方面研究的科技工作人员及高等院校有关专业师生参考。
目录
序言
目录
第一章 扫描隧道显微分析技术概述
第二章 材料原子结构的扫描隧道显微分析
第三章 材料组织结构的原子尺度分析研究
第四章 扫描隧道显微分析实验技术
第五章 作者在扫描隧道显微镜应用方面的研究工作
第六章 扫描隧道显微镜应用前景展望