zhaodelai321 发表于 2008-5-28 15:45:30

晶粒度一般淬火后检测还是淬回火后检测

晶粒度一般淬火后检测还是淬回火后检测,机理是什么?

4827 发表于 2008-5-28 17:10:47

淬火或淬火回火后均可,一般实际晶粒度均在使用状态检查。

小雨点 发表于 2008-5-28 17:32:04

晶粒度好像是平衡状态吧

linglingring911 发表于 2008-5-28 19:10:57

请问是不是经任何热处理后原奥氏体晶界都能被腐蚀出来?
搭个便车,问个问题:淬火回火后的实际晶粒度还是所说的原奥氏体晶粒度吗?那怎么奥氏体在淬火中就没细化吗?其他工艺后呢?   问题和本楼意思相同
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happy1981 发表于 2008-5-28 20:37:02

建议看看金属学原理,里边有详细介绍,论谈上可以下载到相关教材!

天天小非 发表于 2008-5-31 09:29:28

3楼说的很有道理,就是在平衡状态下测定

lanwenbiao 发表于 2008-5-31 15:02:34

都可以的,淬回火后晶粒度都不会有变化,低温回火后看得更明显一些。

wangyr3106 发表于 2008-5-31 20:31:32

都可以.对钢来说,如不作特别的说明,晶粒度一般是指奥氏体化后的实际晶粒大小,即是钢材经过不同的热处理操作后冷却到室温下所得到的晶粒.

tobi_zhu 发表于 2008-5-31 23:16:02

所谓晶粒度,就是晶粒大小的量度。其中可以用到长度、面积、体积或晶粒度级别来表示。对于非等轴晶粒我等轴晶粒都可以测量。测量晶粒度的前提是晶界都能明显或隐约看得出来。有了这个前提,一般情况下都能测得出晶粒度。

shenjiangang 发表于 2008-6-1 00:07:26

当然要回火以后的晶粒了,那才是钢材服役的晶粒.但在淬火后难辨别晶粒大小,在显微镜下只有组织,很难分辨晶界.但可以根据马氏体形态判断原始组织的晶粒度.

lichanggen1984 发表于 2008-6-3 21:40:41

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对钢来说,如不作特别的说明,晶粒度一般是指奥氏体化后的实际晶粒大小,也就是本征晶粒即是钢材经过不同的热处理操作后冷却到室温下所得到的晶粒.

sinere1983cn 发表于 2008-6-19 14:33:18

一般所测的晶粒度都在在最终交货状态下进行测量,见相应的国家标准

WXH6255 发表于 2008-6-19 15:16:29

晶粒度淬火后检测比较好,用特殊侵蚀剂侵蚀后晶界比回火后的清楚.淬火后和淬火回火后的晶料度是一样的,因为晶粒都是淬火加热时的奥氏体的晶粒.:lol

横笛吹雨 发表于 2008-6-23 21:00:29

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1、如何答复4楼中心试验室的问题?
2、又如正火可以细化晶粒应是公认的,那么正火奥氏体均匀化时的晶粒与正火后的晶粒该作何比较?
3、如果是调质处理,回火前后的晶粒度是否都是淬火加热时的奥氏体的晶粒?

横笛吹雨 发表于 2008-6-29 12:28:25

新想法

1、4楼中心试验室说的问题与linglingring911的腐蚀出原A晶界不是相同意思的问题。淬火回火后的实际晶粒度并不是原奥氏体晶粒度。
2、仅以P转变来说,相同的A化条件(即相同的A晶粒度)会因为冷速不同得到晶粒度不同的组织(T、S等)。
3、采用以苦味酸为基的腐蚀剂可以腐蚀出原A晶界,但一个原A晶粒内可有多个冷却后得到的新晶粒。

nongzhuzhu 发表于 2008-7-1 23:24:26

原帖由 WJFU66 于 2008-6-29 12:28 发表 http://www.rclbbs.com/images/common/back.gif
1、4楼中心试验室说的问题与linglingring911的腐蚀出原A晶界不是相同意思的问题。淬火回火后的实际晶粒度并不是原奥氏体晶粒度。
2、仅以P转变来说,相同的A化条件(即相同的A晶粒度)会因为冷速不同得到晶粒度不同的组织(T ...


正解

soul 发表于 2008-7-18 00:52:46

我觉得有些不同的意见,可以讨论下:
关于   1 又如正火可以细化晶粒应是公认的,那么正火奥氏体均匀化时的晶粒与正火后的晶粒该作何比较?
正火相当于重新奥氏体化了一道,对比晶粒度应该还是比较正火前后原始奥氏体晶粒度。
关于   4楼中心试验室说的问题与linglingring911的腐蚀出原A晶界不是相同意思的问题。淬火回火后的实际晶粒度并不是原奥氏体晶粒度。
淬火回火后看的晶粒度没有特别提示也应该是看淬火时的奥氏体晶粒度,不过奥氏体化后采用什么方式冷却,我觉得晶粒度是没有发生变化的,变化的只是晶粒内部的组织(P,B,M)。

wujunfeng610 发表于 2008-7-19 12:13:36

关于晶粒度测定状态需要先弄清楚检测目的,是要控制原材料还是控制热处理工艺:如果在乎零件的实际晶粒度什么状态都可以测定,要控制原材料就检测本质晶粒度,这时候请吃透GB/T6394.

rockston 发表于 2008-7-19 13:56:42

讲得太深了,能不能简单一些说

zHANG_999567 发表于 2008-7-19 14:08:00

回复 18# 的帖子

请问有没有GB/T6394的标准?
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