渗碳产品怎样控制表面的托氏体网?
最近,我们的渗碳产品表面出现了托氏体网,请教各位,如何控制和减少表面的托氏体网呢?我们用的是氧碳头控制的井式炉。 楼上专家是否详细介绍一下情况:1、材料
2、技术要求
3、工艺
4、屈氏体层深度
在下面链接中(http://www.rclbbs.com/viewthread.php?tid=12044)对屈氏体产生的原因有较详尽的分析,可供参考。但其中也有不合理之处,如回火可消除屈氏体之说就没有道理也不可能。 可能由于以下原因:
渗碳的温度低;
炉气活性差;
表面含碳量不足;
奥氏体不稳定;
渗碳后冷却缓慢;
淬火加热过程中发生表面脱碳;
这类托氏体黑色网状经重新加热,快速冷却淬火可以得到消除。
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1、渗碳的温度低、炉气活性差、表面含碳量不足产生屈氏体的原因是什么?2、表面脱碳造成的屈氏体也可以通过“快速冷却淬火可以得到消除”? 渗碳淬火后,表层组织出现屈氏体,其原因可用过冷奥氏体等温转变图来解释。
要获得屈氏体,必然是冷却曲线与C曲线相交,其中又可分为两种情况:
1、C曲线正常,冷却曲线斜率较小(即淬火时冷却速度不足),两者相交。
2、冷却曲线斜率正常,C曲线左移,两者相交。
C曲线左移的原因,就是奥氏体的合金化不足。具体表现为三方面:加热不足;合金元素缺失(表面氧化烧损及氧的入侵造成晶界内氧化);材料局部地区合金元素偏析。
楼主的这种情况应该是氧的入侵造成晶界内氧化导致的。气氛中有氧化成分。 1、内氧化只是很薄的一层(几丝)吧?内氧化与黑色组织的区别是什么?黑色组织是否进一步放大就是网状屈氏体?
2、在下面链接中(http://www.rclbbs.com/viewthread.php?tid=12257)5楼提出了晶内氧化和晶界氧化的问题,到底如何界定内氧化?
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渗碳表面网状黑色组织内氧化的可能性大一些,渗碳表层黑色组织屈氏体等其它非M组织的可能性大一些.
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